低功率芯片老化測試機-中睿技術檢測（如東）有限公司

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檢測設備

低功率芯片老化測試機

CTSM CB3100

◆ Up to 150℃

◆ 192 Channel

◆ 32 slots (16 pattern zone)

◆ DC POWER 0.5V to 5V ,4sets, 20A 0.5V to 8V ,2sets,3A

◆ Pattern Vector Depth : 16M

◆ ALPG function

◆ Formatter : RZ ,RO, NRZ

◆ Period Rate : Max 10Mhz

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